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背照式CCD光譜儀提供穩(wěn)定、快速、分析解決方案
背照式CCD光譜儀采用可編程脈沖全數(shù)字光源、高速CCD全譜采集系統(tǒng)、優(yōu)化設計的光路等新技術，集合光譜自校正、單火花采集技術和光譜延時采集技術，高可靠性激發(fā)臺設計。背照式CCD光譜儀為用戶提供穩(wěn)定、快速、的金屬材料分析解決方案。運營成本低，安全可靠。應用于冶金、鑄造、金屬加工等行業(yè)的爐前及實驗室定量分析。
背照式CCD光譜儀技術,廣泛應用于冶金、鑄造、機械、汽車制造、航空航天、兵器、金屬加工等領域的生產工藝控制，爐前化驗，中心實驗室成品檢驗。
CCD，是英文ChargeCoupledDevice即電荷耦合器件的縮寫，背照式CCD光譜儀是在MOS晶體管電荷存儲器的基礎上發(fā)展起來的，突出的特點是以電荷作為信號，而不是以電流或電壓作為信號的。在P型或N型硅單晶的襯底上生長一層厚度約為120~150nm的SiO2層，然后按一定次序沉積m行n列個金屬電極或多晶硅電極作為柵極，柵極間隙約2.5μm，于是每個電極與其下方的SiO2和半導體間構成了一個MOS結構，這種結構再加上輸入、輸出結構就構成了m×n位CCD（m＞1，n≥1）；當n=1時，CCD器件被稱為線陣CCD；當n＞1時,則為面陣CCD。CCD按受光方式分為前感光和背感光兩種。前感光CCD由于正面布置著很多電極，光經電極反射和散射，不僅使得響應度大大減低（量子效率通常低于50%），也因為多次反射產品的干涉效應使光譜響應曲線出現(xiàn)馬鞍形的起伏；背感光CCD由于避免了上述問題，因而響應度大大提高，量子效率可達到80%以上。